一：仪器设备名称： 

型号：ZSX Primus II 

生产厂家：日本理学 

仪器性能及参数主要技术参数： 

X射线荧光（以下简称XRF）光谱法的基本原理是当物质中的原子受到适当的高能辐射的激发后，放射出该原子所具有的特征X射线。根据探测到该元素特征X射线的存在与否的特点，可以定性分析；而其强度的大小可作定量分析。该法具有准确度高，分析速度快，试样形态多样性及测定时的非破坏性等特点，它不仅用于常量元素的定性和定量分析，而且也可进行微量元素的测定，其检出限多数可达10-6，与分离、富集等手段相结合，可达10-8。 

元素测试范围：Be-U 

上照射方式 

世界上目前出光效率最高的4KW端窗型X光管 

独特的光学系统，可实现直径0.5mm选区分析功能 

48样品交换器 

自动真空稳定系统APC，大大提高了轻元素的分析精度 

φ0.5mm ～φ35mm 8 位置光阑 

高效率的芯线自动清洗系统 

二：服务项目（测试项目） 

固体、粉末样品组份的定性、半定量、及定量分析 

微区分析 

三：服务指南 

负责人：贾志泰 

联系方式 

电话：0531-88364518 

E-mail：jiazhitai@gmail.com 

仪器放置地点：功能晶体材料楼 332房间 

测试样品要求： 

样品直径：7-40 mm 

测试面光滑/抛光 

样品无毒、不易碎、不挥发、不易爆、不潮解 

粉末样品在需压实，在真空条件下不破裂飞溅，以免污染测试室及X光管 

收费标准： 

半定量分析（全元素）：所内 400元/样品；外单位 800元/样品 

定量分析（需自备标样）：所内1000元/样品；外单位 2000元/样品 

微区分析：所内80元/点元素；外单位160元/点元素  

XRF测试申请表.doc