仪器设备
扫描探针显微镜
 |
| 热分析设备包括差示扫描量热仪，热机械分析仪，热重/差热分析仪三部分。其中差示扫描量热仪2005年购于美国Perkin Elmer 公司.仪器型号: Pyris Diamond DSC,测试温度:-65℃-600 ℃.主要用于测试材料的相变（一级相变或二级相变）、熔点、熔化热、比热容、玻璃化转变温度等。 热机械分析仪2005年购于美国Perkin Elmer 公司.仪器型号:Pyris Diamond TMA,测试温度:-65℃-600 ℃.主要用于测试材料的线膨胀系数和体膨胀系数. 热重/差热分析仪2005年购于美国Perkin Elmer 公司.仪器型号: Pyris Diamond TG/DTA,测试温度:室温-1300℃.主要用于测试材料的分解温度、热稳定性、重量变化率、相变、熔点、熔化热、玻璃化转变温度等. |