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X射线荧光光谱仪
2015-06-22 16:32   审核人:

 

一:仪器设备名称: 

型号:ZSX Primus II 

生产厂家:日本理学 

仪器性能及参数主要技术参数: 

X射线荧光(以下简称XRF)光谱法的基本原理是当物质中的原子受到适当的高能辐射的激发后,放射出该原子所具有的特征X射线。根据探测到该元素特征X射线的存在与否的特点,可以定性分析;而其强度的大小可作定量分析。该法具有准确度高,分析速度快,试样形态多样性及测定时的非破坏性等特点,它不仅用于常量元素的定性和定量分析,而且也可进行微量元素的测定,其检出限多数可达10-6,与分离、富集等手段相结合,可达10-8。 

元素测试范围:Be-U 

上照射方式 

世界上目前出光效率最高的4KW端窗型X光管 

独特的光学系统,可实现直径0.5mm选区分析功能 

48样品交换器 

自动真空稳定系统APC,大大提高了轻元素的分析精度 

φ0.5mm ~φ35mm 8 位置光阑 

高效率的芯线自动清洗系统 

二:服务项目(测试项目) 

固体、粉末样品组份的定性、半定量、及定量分析 

微区分析 

三:服务指南 

负责人:贾志泰 

联系方式 

电话:0531-88364518 

E-mail:jiazhitai@gmail.com 

仪器放置地点:功能晶体材料楼 332房间 

测试样品要求: 

样品直径:7-40 mm 

测试面光滑/抛光 

样品无毒、不易碎、不挥发、不易爆、不潮解 

粉末样品在需压实,在真空条件下不破裂飞溅,以免污染测试室及X光管 

收费标准: 

半定量分析(全元素):所内 400元/样品;外单位 800元/样品 

定量分析(需自备标样):所内1000元/样品;外单位 2000元/样品 

微区分析:所内80元/点元素;外单位160元/点元素  

 

XRF测试申请表.doc

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